Conférence Scientifique Visuelle à l'EPHJ le 18 juin 2014

À propos de cette offre

Éliminer les conjectures dans la production de saphir : de la détection précoce des défauts aux normes de qualité.

Contrôle des défauts matière dans le saphir : de la détection automatique avant et après polissage à l’établissement d’une norme de qualité.

Actuellement, l’inspection des défauts des couvercles de montres en saphir s’effectue après le traitement complet – c’est-à-dire la découpe, la tranche, le meulage et le polissage jusqu’à la transparence.

Environ 10 à 15 % des couvercles sont rejetés après traitement en raison de défauts internes du matériau tels que des fissures ou des bulles qui se retrouvent piégées lors de la phase de cristallisation. Par conséquent, une usine typique de saphir consacre une demi-journée par semaine au polissage des déchets.

Que se passerait-il si l’on pouvait rendre ces défauts invisibles visibles avant les étapes coûteuses de traitement ?

Des postes de travail automatiques basés sur un liquide à indice d’indice égal permettent la détection précoce des défauts et garantissent que seul un matériau de haute qualité et adapté entre dans la chaîne de valeur.

Contrairement à l’inspection oculaire humaine, le contrôle qualité automatique établit une norme objective et assure un retour diagnostique rapide durant les étapes de production.

À l’instar du traitement du diamant il y a quelque temps, l’industrie du saphir est aujourd’hui à l’aube d’établir un système commun et indépendant de l’observateur de classification de qualité qui améliore de manière rentable les marges des fabricants et rationalise la chaîne d’approvisionnement.

Lors de cette conférence, nous partageons le fonctionnement de ce système ainsi que les résultats des projets pilotes et nos données accumulées lors des études de contrôle qualité du saphir en phase précoce.

De plus, nous montrons comment cette technologie peut bénéficier à l’industrie suisse du saphir et de la montre en termes de réduction des coûts et d’amélioration de la compétitivité.

Date : mercredi 18 juin 2014 à 10h30

Lieu : Palexpo Hall S, Genève, Suisse

Intervenants : Ivan Orlov (CEO) et Benedict Stalder (VP Sales)

Scientific Visual SA, Lausanne

La conférence est donnée simultanément en anglais et en français.

La conférence est organisée par le salon professionnel EPHJ-2014.